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Briciole di pane

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Caratterizzazione alla nanoscala

Sono accessibili risorse di caratterizzazione fino alla nanoscala quali sistemi di microscopia elettronica, profilometria ottica e a stilo, sistemi di microscopia a sonda, microscopia a fluorescenza, confocale, Raman e spettroscopia a raggi X (EDS).

Stumentazione chiave: SEM, SPM, Profilometria ottica e a stilo,EDS, microscopia ottica, Raman e a fluorescenza.
Persone chiave: Pasqualantonio Pingue, Luca Medda, Andrea Guerrini